時域分析功能及眼圖功能；鼎陽SNA5000A 系列矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀 在微波射頻領(lǐng)域，SNA5032A/SNA5022A  如何有效消除有害的測試夾具效應(yīng)是一大挑戰(zhàn)。比如在對SMD器件進(jìn)行測試時需要特定的測試夾具實現(xiàn)測試儀器測試端與器件輸入端的轉(zhuǎn)接，導(dǎo)致測試結(jié)果中包含了測試夾具的特性。目前SNA5000A系列提供的去除測試夾具影響的方法主要有：端口延伸，端口匹配，端口阻抗轉(zhuǎn)換，去嵌入，適配器移除等。另外，SNA5000A系列還支持TDR時域反射計測量功能，可在時域?qū)鬏斁€的特征阻抗，時延等參數(shù)進(jìn)行分析。

先進(jìn)的外觀設(shè)計；不管是在研發(fā)還是在現(xiàn)代化的生產(chǎn)線，區(qū)別于傳統(tǒng)笨重的矢量網(wǎng)絡(luò)分析儀，SNA5000A超前的外觀設(shè)計都能為工程師或者產(chǎn)線節(jié)省大量的桌面空間。

頻率范圍：100 kHz- 26.5 GHz

中頻帶寬范圍：10 Hz~3 MHz

輸出功率設(shè)置范圍：-55 dBm ~ +10 dBm

可選配時域分析選件以及頻譜分析儀選件

校準(zhǔn)類型：響應(yīng)校準(zhǔn)，增強(qiáng)響應(yīng)校準(zhǔn)，單端口校準(zhǔn)，全二端口校準(zhǔn)，TRL 校準(zhǔn)

測量分析類型：S 參數(shù)測量，差分(平衡)測量，接收機(jī)測量，時域分析、極限測試、紋波測試、帶寬分析、阻抗轉(zhuǎn)換、端口匹配、去嵌功能等

多樣化的顯示

除開外觀設(shè)計，其先進(jìn)的用戶界面，配合上12.1英寸超大觸摸屏與外接的鼠標(biāo)和鍵盤，讓工程師能更快的添加或刪除窗口，通道和跡線。SNA5000A支持在多個窗口下，添加多條跡線進(jìn)行S參數(shù)測量。并且測量結(jié)果，可以多種數(shù)據(jù)格式顯示，如 Log Mag，Lin Mag，Phase，Delay，Smith，SWR，Polar等，可以方便快捷地分析被測物的傳輸系數(shù)，反射系數(shù)，駐波比，阻抗匹配，相位，延時等參數(shù)。

低噪聲，高動態(tài)范圍

系統(tǒng)動態(tài)范圍是VNA一個非常重要的指標(biāo)，它是VNA源的最大輸出功率與測試端口本底噪聲的差值。SNA5000A擁有最大125 dB的動態(tài)范圍，可適用于對動態(tài)范圍要求比較高的測試場景，比如同時測量濾波器的通帶和帶外抑制性能。